Experimental verification of Raman scattering suppression via ground state depletion for spatial resolution enhancement in label-free microscopy

Rieger Steffen, Fischedick Markus, Boller Klaus-Jochen, Fallnich Carsten

Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz) | Peer reviewed

Details zur Publikation

StatusVeröffentlicht
Veröffentlichungsjahr2016 (10.06.2016)
Sprache, in der die Publikation verfasst istEnglisch
KonferenzCLEO - Conference on Lasers and Electro-Optics, San Jose, California, USA, undefined

Autor*innen der Universität Münster

Fallnich, Carsten
Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich)
Fischedick, Markus
Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich)
Rieger, Steffen
Professur für Angewandte Physik (Prof. Fallnich)